Atomic force microscopy
good wiki

Atomic force microscopy

Atomic force microscopy (AFM) je technika, která slouží k obrazování povrchů na atomární úrovni. Tato metoda využívá malou hrot, který se pohybuje velmi blízko povrchu zkoumaného vzorku, přičemž detekuje interakce mezi hrotem a atomy na povrchu. AFM je schopna poskytovat prostorové informace o topografii, mechanických vlastnostech a dalších vlastnostech materiálů v reálném čase a v trojdimenzionálním zobrazení. Tato technika najde široké uplatnění v oblastech jako je nanotechnologie, biologie, materiálové vědy a chemie. V porovnání s jinými metodami mikroskopie poskytuje AFM výhody v podobě vysokého rozlišení a schopnosti zkoumat vzorky v normálních podmínkách, bez nutnosti jejich speciální přípravy nebo umístění do vakua.

More at Wikipedia