Transmission electron microscopy

**Skenovací transmisní elektronová mikroskopie (STEM)** je pokročilá forma elektronové mikroskopie, která umožňuje vysoce detailní zobrazování struktury materiálů na atomární úrovni. Tato metoda používá elektrony namísto světla k osvětlení vzorku a nabízí výrazně vyšší rozlišení než tradiční optické mikroskopy. V rámci STEM se elektrony zaměřují na vzorek, a to umožňuje zkoumat jeho vlastnosti, jako jsou chemické složení a krystalová struktura. Principem této technologie je, že elektrony procházejí přes velmi tenký vzorek a vytvářejí obraz na základě různých interakcí s materiálem. Skenovací transmisní elektronová mikroskopie se často používá ve vědeckém výzkumu, materiálových vědách, biologii a nanotechnologiích. Umožňuje také analytické techniky, jako je elektronová difrakce a energiově dispersní Rentgenova spektroskopie, což přispívá k lepšímu pochopení vlastností prozkoumávaných materiálů.