Cesko.wiki SNOM
Author
Albert FloresSNOM (Scanning Near-field Optical Microscopy) je vysoce citlivá technika mikroskopie s využitím blízkého pole světla. Tato technika umožňuje získání obrazu vzorku s vysokým rozlišením pomocí sondy, která je umístěna ve velmi blízkém odstupu od vzorku. Hlavní výhodou této metody je schopnost zkoumat vzorky s vysokým rozlišením až na atomární úrovni, což je zásadní pro studium nanostruktur a nanomateriálů. SNOM je často využíváno v oblastech jako je materiálová věda, biofyzika nebo nanotechnologie. Přístroje pro SNOM jsou vybaveny tipy, které mají velmi malý průměr a umožňují přesné lokalizování bodu zájmu na vzorku. SNOM se vyznačuje vysokou citlivostí, jedinečnou schopností vyhodnocovat optické parametry vzorku a možností zkoumat vzorky v prostředí s různými vlastnostmi. SNOM je stále vyvíjen a zdokonalován, aby mohl plnit stále komplexnější úlohy ve výzkumu a praxi.
princip SNOM Near Field Scanning Optical Microscopy (NSOM/SNOM), česky optická skenovací mikroskopie v blízkém poli, je mikroskopická technika pro pozorovaní v oblasti nanočástic, která překonává rozlišovací limit pomocí vlastností tlumených vln. Základem této techniky je umístění detektoru velmi blízko k povrchu vzorku, typicky mezi 1 a 0.1-násobkem vlnové délky světla. Používá se v optické mikroskopii, pro její schopnost zvýšit kontrast nanočástic, může být snadno použita studiu různých vlastností látek, jako je index lomu, chemická struktura a mechanická deformace.
Popis zařízení
Zařízení se skládá například z optického vlákna leptaného do špičky, které je u této špičky pokoveno. Vláknem prochází modulované elektromagnetické záření (laser), které dopadá na vzorek ve vzdálenosti menší než je jeho vlnová délka, tzv. +more oblast blízkého pole. V tomto poli nedochází k výraznému odchylování fotonů ze směru kolmém na vzorek, a proto je interpretace výsledků snadnější. Světlo se vzorkem interaguje a to, které se odrazí nebo rozptýlí je detekováno fotonásobiči a převedeno na elektrický signál, a pak na monitor. SNOM je vlastně spojení optické mikroskopie s mikroskopií se skenující sondou (SPM). Tím dochází k lepšímu rozlišení než u klasické mikroskopie. V roce 2010 je tato technika předmětem zkoumání, zejména v oblasti výpočtu obrazu, kde se uplatňují složité zákonitosti kvantové mechaniky.
Použití
SNOM může nalézt své uplatnění v biologii, medicíně, v optické litografii nebo v materiálovém výzkumu.
Reference
Literatura
JEMNÁ MECHANIKA A OPTIKA ROČNÍK 52 10/2007 Artefakty v rastrovací optické mikroskopii v blízkém poli (P. Klapetek, J. +more Buršík) strana 279 * Fabrication of Silicon Microprobes for Optical Near-Field Applications, Minh, P. , Takahito, O. , and Masayoshi, E. , CRC Press, Boca Raton, Florida, 192 pages (2002). * Near-Field Optics and Surface Plasmon Polaritons, Kawata, S. , (ed. ) Springer, Osaka, Japan, 210 pages (2001). * Near-Field Nano-Optics: From Basic Principals to Nano-Fabrication and Nano-Photonics, Ohtsu, M. and Hori, H. , Plenum Publishers, New York, 386 pages (1999). * Near-Field Optics: Principles and Applications, Zhu, X. and Ohtsu, M. , (eds. ) World Scientific Publishing, Singapore, 273 pages (1999). * Near-Field Nano/Atom Optics and Technology, Ohtsu, M. , (ed. ) Springer, Tokyo, Japan, 302 pages (1998). * Near Field Optics and Nanoscopy, Fillard, J. , World Scientific Publishing, Singapore, 438 pages (1996).
Externí odkazy
Petr Klapetek, Jiří Buršík, Miroslav Valtr, Jan Martinek: [url=http://prutok. cmi. +morecz/bib/umtip. pdf]Near-field scanning optical microscope probe analysis[/url] Český metrologický institut, Ústav fyziky materiálů, Vysoké technické učení v Brně.