Scanning probe microscopy

**Shrnutí pro českou Wikipedii na téma "Snímání sondovou mikroskopií":** Snímání sondovou mikroskopií (SPM) je soubor technik, které umožňují zkoumat povrch materiálů na nanometrové úrovni. Tyto metody využívají fyzikálních interakcí mezi sondou a vzorkem k vytvoření detailních obrazů a analýze topografie, elektrických, magnetických a chemických vlastností materiálů. Nejznámějšími typy SPM jsou atomární síťová mikroskopie (AFM) a skenovací tunelová mikroskopie (STM). AFM pracuje na principu měření síly mezi mikroskopickou sondou a povrchem vzorku, zatímco STM využívá kvantově mechanické tunelování na získání informací o elektrických vlastnostech na atomární úrovni. SPM se využívá v široké škále vědeckých a průmyslových aplikací, včetně materiálových věd, biologie a nanoelektroniky. Tyto techniky umožňují vědcům studovat struktury na velmi malých měřítkách, což přispívá k pokroku v mnoha oblastech výzkumu a technologií.